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  • 20 I. C. Nam, H. T. Kim, T. E. Kim, H. T. Shin, H. S. Park, K. S. Kim, K. H. Kim, J. B. Choi, J. U. Lee, S. H. Jeong, S. W. Kim, D. J. Kim, K. S. Min, and D. M. Kim "Modeling of Substrate Current and Characterization of Trpas in MOSFETs under Sub-Bandgap Photonic Excitation" The 11th Korean Conference on Semiconductors, vol. 2, pp. 231-232, 2004-02
  • 19 M. S. Kim, H. T. Kim, S. S. Chi, T. E. Kim, H. T. Shin, K. W. Kang, H. S. Park, D. J. Kim, K. S. Min, and D. M. Kim "Optical Subthreshold Current Method with MOSFETs for Extracting the Distribution of Interface States in MOS Systmes" The 10th Korean Conference on Semiconductors, vol. 10, pp. 15-16, 2003-02
  • 18 S. S. Chi, H. T. Kim, M. S. Kim, T. E. Kim, H. T. Shin, K. W. Kang, H. S. Park, D. J. Kim, K. S. Min, and D. M. Kim "Photonic Gated-Diode Method for Extracting the Energy-Dependent and Spatial Distributions of Interface States in MOSFETs" The 10th Korean Conference on Semiconductors, vol. 10, pp. 19-20, 2003-02
  • 17 S. D. Cho, S. J. Song, H. C. Kim, Y. C. Kim, S. K. Kim, S. S. Chi, D. J. Kim, and D. M. Kim "Experimental and Qualitative InvestigatIon of Abnormal Gate Leakage Currents in Pseudomorphic HEMTs" 제8회 한국반도체학술대회 논문집, pp. 523-524,, 2001-02
  • 16 Y. C. Kim, S. D. Cho, S. J. Song, H. C. Kim, S. K. Kim, S. S. Chi, K. H. Baek, G. M. Lim, D. J. Kim, and D. M. Kim "Extraction of Equivalent Device parameters in MOSFETs Combining C-V and I-V characteristics" 제8회 한국반도체학술대회 논문집, pp. 547-548, 2001-02
  • 15 H. C. Kim, S. D. Cho, S. J. Song, Y. C. Kim, S. K. Kim, S. S. chi, D. J. Kim, and D. M. Kim "Photonic Capacitance-Voltage Characteristics of MOS capacitors and Photonic Current-Voltage Characteristics of MOSFETs" 제8회 한국반도체학술대회 논문집, pp. 549-550, 2001-02
  • 14 김 현창, 조 수동, 송 상준, 김 대정, 김 동명 "새로운 ERM-방법에 의한 미세구조 N-채널 MOSFET의 유효 이동도와 소스 및 드레인 기생저항의 정확한 분리 추출:A Novel External Resistance Method for Extraction of Accurate Effective Mobility and separated Source/Drain Resistances in Submicron L" 대한전자공학회 논문지 SD편, 제37권 12호 pp. 999-I008, 2000-12
  • 13 백 강현, 김 동명 "Modeling and Extraction of Small-signal characteristic parameters with a New zero-gm Method in Submicron si-MOSFET's for Microwave Applications" Telecommunications Review, 2000-08
  • 12 G. M. Lim, K. H. Baek, S. D. Cho, Y. C. Kim, H. C. Kim, S. K. Kim, D. J. Kim, and D. M. Kim "A New Method for the Extraction of Effective Mobility and Separated Source/Drain Resistances in Submicron MOSFETs" 제7회 한국반도체학술대회 논문집, pp. 473-474, 2000-
  • 11 K. H. Baek, G. M. Lim, S. D. Cho, Y. C. Kim, H. C. Kim, S. G. Kim, D. J. Kim, and D. M. Kim "Modeling and Extraction of Small-signal Characteristic parameters in Submicron si-MOSFET's for Microwave Applications" 제7회 한국반도체학술대회 논문집, pp.471-472, 2000-
  • 10 임 광만, 백 강현, 송 상호, 김 동명 "0pmelectronic Control and Modeling of a High performance Field Effect Transistor as a Photonic Detector" 제5회 한국반도체학술대회 논문집, pp. 555-556, 1998-10
  • 9 백 강현, 임 석진, 임 광만, 김 동명 "Electrical Characteristics of an Optically Controlled N-channel si-MOSFET for Possible Application m OEICs on si Substrate" 대한전자공학회 하계종합학술대회 발표논문집, voI.21, no. 1, pp. 351-354, 1998-
  • 8 H. J. Kim, S. H. Song, D. M. Kim, D. Woo, S. Lee, W. J. Choi, I. K. Han, J. I. Lee, S. H. Kim, K. N. Kang, and K. Cho "Optical ControlIed AlGaAs/GaAs/InGaAs Pseudomorphic MODFET" 제4회 한국반도체학술대회 논문집, pp. 19-20, 1997-
  • 7 마 병진, 김 해택, 김 동명 "DIBL현상을 고려한 FET의 문턱전압 모델과 기판 불순물 농도의 추출법" 대한전자공학회 추계종합학술대회 논문집, vol.18, no. 2, pp. 595-598, 1995-
  • 6 김 성진, 김 회종, 우 덕하, 이 석, 최 원준, 한 일기, 김 선호, 강 광남, 김 동명 "짧은 게이트 길이를 갖는 HEMT의 해석 전 모델" 제2회 한국반도체학술대회 발표논문집, vol. 2, pp. 445-447, 1995-
  • 5 정 훈, 박 상일, 정 진세, 김 동명 "Hot Carrier에 의해 열화된 MOSFET에서 Inverse Narrow-width 효과 및 기생 다이오드의 생성" 대한전자공학회 추계종합학술대회 논문집 voI. 18, no. 2, pp. 503-506, 1995-
  • 4 박 상일, 정 훈, 이 승훈, 김 동명, 송 명호 "NPN형 AlGaAs/GaAs HBT의 특성개선을 위한 베이스 구조연구" 제2회 한국반도체학술대회 발표논문집, vol. 2, pp. 437-438, 1995-
  • 3 김 해택,마 병진,신 수호,김 동명,송 명호 "초고속,초고주파용 Pnp-HBT의 성능개선을 위한 구조 최적화" 제2회 한국반도체학술대회 발표논문집, vol. 2, pp. 433-435, 1995-
  • 2 김 동명 "높은 베이스 도우핑 농도를 가진 Npn-헝 AlGaAs/GaAS 이종접합 바이폴라 트랜지스터의 DC 및 초고주파 특성" 제1회 한국반도체학술대회 발표논문집, vol. 1, pp. 253-255, 1994-
  • 1 D. H. Kim , D. M. Kim, and S. H. Seo "Hole Influence on Both the Degradation of Erase Efficiency and the Dynamic BTI-like Behavior in Program/Erase Cycled NAND-type Nitride-Based Charge Trapping Flash Memories" The 15th Korean Conference on Semiconductors, -
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